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SooHyung Kim
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NT
5
JongWeon Kim
6
Jiwan Lee
7
Energy efficiency
8
Hyungshin Kim
9
KwiHoon Kim
10
Jongho Nang
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Experimental characterization-Based Signal Integrity Verfication of Sub-Micron VLSI Interconnects
Yung-Seon Eo
Young-jun Park
Yong-ju Kim
ju-Young Jeong
Oh-Kyong Kwon
Journal of EEIS, VOL 02 NO. 05 PP. 0017 ~ 0026 1997. 10
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Dae-Yeon Won
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Gyu-Bae Shim
Jae-Woong Lee
Yong-Hyuk Kim
Çѱ¹Á¤º¸°úÇÐȸ 2011³â Á¦38ȸ Ãß°èÇмú¹ßǥȸ, VOL 38 NO. 2(B) PP. 0375 ~ 0378 2011. 11
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Woo-Jae Kim
Dong-Hee Kwon
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Young-Jun Park
JCCI 2004, VOL 14 NO. 01 PP. 4C ~ 0001 2004. 04
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