Çѱ۳»¿ë (Korean Abstract) |
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ¿¹Ãø(Software Defect Prediction, ÀÌÇÏ SDP)Àº È¿À²ÀûÀÎ Ç°Áúº¸Áõ ¿ª·®ÀÇ ¹èÄ¡¸¦ µµ¿Í Á¦Ç°ÀÇ Ç°ÁúÇâ»ó°ú ºñ¿ë Àý°¨¿¡ µµ¿òÀ» ÁÖ´Â ±â¼ú·Î¼ È°¹ßÇÑ ¿¬±¸°¡ Áö¼ÓµÇ¾î¿Ô´Ù. ±× Áß, Ư¡¼±ÅÃ(Feature Selection)±â¹ýÀº °áÇÔ¿¹Ãø¸ðµ¨ÀÇ ¼º´ÉÇâ»óÀ» À§ÇØ µ¥ÀÌÅͼÂÀÇ Æ¯Â¡ ºÎºÐÁýÇÕ(Feature subset)À» Á¦¾ÈÇÏ¿© Ư¡ÀÇ ¼ö¸¦ ÁÙÀÌ·Á´Â ¿¬±¸ÀÌ´Ù. ±×·¯³ª Áö±Ý±îÁö Ư¼º ºÎºÐÁýÇÕÀÇ ÁúÀ» ³ôÀ̱â À§ÇØ µ¥ÀÌÅͼÂÀÇ ÀνºÅϽº¿Í Ư¡ »óÈ£ °£ÀÇ °ü°è¸¦ µ¿½Ã¿¡ °í·ÁÇÑ ½Ãµµ´Â ¾ø¾ú´Ù. ±×·¡¼ º» ³í¹®¿¡¼´Â Çϸð´Ï Ž»ö(Harmony Search)À» ÀÌ¿ëÇÏ¿© µ¥ÀÌÅͼÂÀÇ Æ¯Â¡ »óÈ£ °£ÀÇ °ü°è¸¦ °í·ÁÇÑ CFS±â¹ý(Correlation-based Feature Subset Selection)°ú ÀνºÅϽº¸¦ °í·ÁÇÑ Rough-set±â¹ýÀ» È¥ÇÕÇÑ »õ·Î¿î FS¸¦ Á¦¾ÈÇÏ¿´´Ù. ¸ÕÀú, Á¦¾ÈÇÑ ±â¹ýÀÇ ¼º´ÉÀ» È®ÀÎÇϱâ À§ÇØ 3°³ÀÇ µ¥ÀÌÅͼÂ(ÃÑ 15°³ ÇÁ·ÎÁ§Æ®)¿¡¼ ½ÇÇàÇÑ AUC(Area Under the Receiver Operating Characteristic Curve)ºÐÆ÷¸¦ Scott-Knott ESD(Effect Size Difference)¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ºÐ¼®ÇÏ¿´´Ù. ¶ÇÇÑ Á¦¾ÈÇÑ FS°¡ ¼±ÃâÇÑ Æ¯Â¡ ºÎºÐÁýÇÕÀÇ ¼ºÁúÀ» »ìÆ캸±â À§ÇØ 2°¡Áö FS±â¹ý(CFS, Rough-set)À» ´Üµ¶À¸·Î ½ÇÇàÇÑ °á°ú¿Í ºñ±³ÇÏ¿´´Ù. ºÐ¼® °á°ú Á¦¾ÈÇÑ ±â¹ýÀÌ °áÇÔ¿¹Ãø¸ðµ¨ÀÇ ¼º´ÉÀ» Çâ»ó½ÃÅ°´Â Ãß°¡ÀûÀΠƯ¡À» ¼±ÃâÇÏ¿© ´Ù¾çÇÑ ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿Í ºÐ·ù±â º¯µ¿¿¡µµ °¡Àå ¾ÈÁ¤ÀûÀÎ ¼º´ÉÀ» º¸¿´À¸¸ç, 15°³ÀÇ ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿¡ ´ëÇÑ AUCºÐÆ÷¿¡¼µµ ¼º´ÉÀÌ °¡Àå ÁÁ¾Ò´Ù. °á·ÐÀûÀ¸·Î Á¦¾ÈÇÑ ±â¹ýÀÌ SDP¿¡ °¡Àå È¿À²ÀûÀ̶ó°í ¾Ë·ÁÁø CFSº¸´Ù ¼º´ÉÀÌ ÁÁ¾ÒÀ¸¸ç, ¶ÇÇÑ SDP¿¡ Àû¿ëÀÌ °¡´ÉÇÑ »õ·Î¿î FS±â¹ýÀÓÀ» È®ÀÎÇÏ¿´´Ù.
|