• Àüü
  • ÀüÀÚ/Àü±â
  • Åë½Å
  • ÄÄÇ»ÅÍ
´Ý±â

»çÀÌÆ®¸Ê

Loading..

Please wait....

Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù

Ȩ Ȩ > ¿¬±¸¹®Çå > Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù > Çѱ¹Á¤º¸°úÇÐȸ Çмú´ëȸ > KSC 2020

KSC 2020

Current Result Document : 1 / 1

ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) ¾ÆµÎÀ̳ë ÄÚµå ÀÚµ¿È­ Å×½ºÆ®¸¦ À§ÇÑ ÅëÇÕ È¯°æ ¼³°è
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) Integrated environment design for Arduino code automation testing
ÀúÀÚ(Author) ¼­°­º¹   ±è´ö¿±   ±èº¸Âù   ÀÌ¿ìÁø   Kangbok Seo   Deokyeop Kim   Bochan Kim   Woojin Lee  
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) VOL 47 NO. 02 PP. 0165 ~ 0167 (2020. 12)
Çѱ۳»¿ë
(Korean Abstract)
ÃÖ±Ù ÇÁ·Î±×·¡¹Ö ±³À°¿¡ ´ëÇÑ °ü½ÉÀÌ ¸¹¾ÆÁö¸é¼­ ´Ù¾çÇÑ ÀÚµ¿ äÁ¡ ½Ã½ºÅÛÀÌ °³¹ßµÇ¾î ±³À°¿¡ È°¿ëµÇ°í ÀÖ´Ù. ÇÏÁö¸¸ ÇöÀç °³¹ßµÇ¾î È°¿ëµÇ´Â ´ëºÎºÐÀÇ ÀÚµ¿ äÁ¡ ½Ã½ºÅÛµéÀº ÄÜ¼Ö È¯°æ¿¡¼­ Ç¥ÁØ ÀÔÃâ·ÂÀ» ÅëÇØ Å×½ºÆ®ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ¾ð¾î¸¸À» Áö¿øÇÏ°í ÀÖ´Ù. ÇÁ·Î±×·¡¹Ö ±³À°ÀÇ °æ¿ì ÄÜ¼Ö È¯°æ¿¡¼­¸¸ µ¿ÀÛÇÏ´Â ¾ð¾î»Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó ¡®¾ÆµÎÀ̳롯¿Í °°ÀÌ Çϵå¿þ¾î¿Í ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î°¡ °áÇÕµÈ ÀÓº£µðµå ½Ã½ºÅÛµµ ¸¹Àº ºÎºÐÀ» Â÷ÁöÇÏ°í ÀÖÁö¸¸ ÀÌ¿¡ ´ëÇÑ ¿¬±¸´Â ´õµð°Ô ÁøÇàµÇ°í ÀÖ´Ù. ÀÓº£µðµå ½Ã½ºÅÛÀÇ °æ¿ì ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾îÀÇ Ãâ·ÂÀÌ Çϵå¿þ¾î·Î ³ªÅ¸³ª ¸ðµç ºÎºÐÀ» ÀÚµ¿È­ÇÏ¿© Å×½ºÆ®ÇϱⰡ ¸Å¿ì ¾î·Æ´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ ¹®Á¦¸¦ °³¼±Çϱâ À§ÇØ Çϵå¿þ¾î¸¦ ½Ã¹Ä·¹ÀÌÅÍ·Î ´ëüÇÑ µÚ ÀÚµ¿ äÁ¡ ½Ã½ºÅÛ¿¡ Àû¿ëÇϱâ À§ÇÑ ¿¬±¸¸¦ ÁøÇàÇß¾ú°í, ÀÌÀü ¿¬±¸¿¡ ÀÌ¾î ¾ÆµÎÀ̳ë Äڵ带 ÀÚµ¿À¸·Î Å×½ºÆ®ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀÚµ¿ äÁ¡ ½Ã½ºÅÛÀ» º» ³í¹®¿¡¼­ Á¦¾ÈÇÑ´Ù. Çϵå¿þ¾î ¾øÀÌ ¾ÆµÎÀ̳ë Äڵ带 ½ÇÇàÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ½ÇÇà ȯ°æÀ» ±¸¼ºÇÏ°í ÄÚµåÀÇ ½ÇÇà °á°ú¸¦ ÇÔ¼ö È£Ã⠷α׷Π³ªÅ¸³»¾î ±âÁ¸ÀÇ Ãâ·ÂÀ» ´ëüÇÏ¿´´Ù. »ý¼ºµÈ ÇÔ¼ö È£Ã⠷α׸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ±âÁ¸ÀÇ »ç¿ëµÇ´ø Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽º¿Í´Â ´Ù¸¥ Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽º¿Í Å×½ºÆ® ¹æ¹ýÀ» »õ·Î Á¤ÀÇÇÏ¿© ¾ÆµÎÀ̳ë Äڵ带 Å×½ºÆ®ÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô ÇÏ¿´´Ù.
¿µ¹®³»¿ë
(English Abstract)
Å°¿öµå(Keyword)
ÆÄÀÏ÷ºÎ PDF ´Ù¿î·Îµå