플래시 메모리 신뢰성 검증 환경

홈 > 연구문헌 > 학술대회 프로시딩 > 한국정보과학회 학술대회 > 2014년 동계 학술대회

한글제목(Korean Title)	플래시 메모리 신뢰성 검증 환경
영문제목(English Title)	Flash Memory Reliability Testing Environment
저자(Author)	배종보 나안수 신주용 최영우 민상렬 Jongbo Bae Ansu Na Juyong Shin Youngwu Choi Sang Lyul Min
원문수록처(Citation)	VOL 41 NO. 02 PP. 1080 ~ 1082 (2014. 12)
한글내용 (Korean Abstract)	플래시 메모리는 저전력과 고성능의 장점을 바탕으로 모바일 환경에서 저장매체로 광범위하게 사용되고 있다. 플래시 메모리는 저장매체로서 성능뿐 아니라 신뢰성을 검증하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 플래시 메모리 기반 저장장치의 내부 소프트웨어인 FTL의 신뢰성에 대하여 페이지의 동작 모델, NAND시뮬레이터, 목표 블록 장치 인터페이스에 따른 정확성 기준을 바탕으로 검증환경을 구성하였다. 그 결과 기존 블랙박스 형태의 플래시 메모리 저장장치 테스트 환경에서는 검출하기 어려웠던 FTL의 잠재적 오류를 빠른 시간에 검출할 수 있었다.
영문내용 (English Abstract)
키워드(Keyword)
파일첨부	PDF 다운로드