정보처리학회 논문지 B
Current Result Document :
| 한글제목(Korean Title) |
측면조명을 이용한 LCD 백라이트 불량검출 시스템 |
| 영문제목(English Title) |
LCD BLU Defects Detection System with Sidelight |
| 저자(Author) |
문창배
박지웅
이해연
김병만
신윤식
Chang Bae Moon
Jee Woong Bark
HaeYeoun Lee
Byeong Man Kim
Yoon Sik Shin
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| 원문수록처(Citation) |
VOL 17-B NO. 06 PP. 0445 ~ 0458 (2010. 12) |
한글내용
(Korean Abstract) |
LCD 모니터의 백라이트로 CCFL 형광체를 많이 사용하고 있으나 그 불량여부는 육안에 의존하고 있다. 육안 검사를 함으로써 부품에 대한 일관성 있는 검사가 결여되고, 노동집약적인 검사로 인해 산업적 재해가 발생할 수 있다. 따라서, CCFL 불량유무를 자동으로 판별하기 위해서 물리적 촬영 환경과 영상처리 알고리즘은 중요하다. 본 논문에서는 CCFL 형광체를 자동으로 검사하기 위한 촬영환경 중 다섯 가지 조건과 세가지조건 중 두 조건모두에서 사용되는 측면 촬영환경에서 획득한 영상을 이용하여 불량을 판별하기 위한 알고리즘을 제시하였다. 불량을 포함한 CCFL 형광체와 정상시료를 사용하여 영상 획득 및 실험을 수행하였고, 그 결과 제안한 촬영환경과 알고리즘은 과검율 4.65 %와 유출률 5.37 %의 성능을 보인다.
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영문내용
(English Abstract) |
A Cold Cathode Fluorescent Lamp(CCFL) is used as a LCD Monitor's backlight widely. The most common way to check CCFL's
defects is an examination with the naked eye. This naked eye examination can cause examination inconsistencies and industrial disasters.
A shooting environment and detection algorithms are important for finding CCFL defects automatically. This paper presents CCFL defect detection algorithms using images captured under the shooting environment with sidelight which is one of the shooting environment we have suggested. The experimental result shows 4.65% of overdetection and 5.37% of unsuccessful defect detection of CCFL. |
| 키워드(Keyword) |
CCFL 형광체
물리적 촬영환경
불량판별 알고리즘
CCFL Fluorescent Substance
Shooting Environment
Defects Detection Algorithm
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