2013년 추계학술대회
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| 한글제목(Korean Title) |
국부지역 이진 패턴 분석법에 기초한 단락 및 돌기형 FAB불량 검출기법 |
| 영문제목(English Title) |
A Method of Detecting Short and Protrusion-type FAB Defects Based on Local Binary Pattern Analysis |
| 저자(Author) |
김 진수
Jin-soo Kim
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| 원문수록처(Citation) |
VOL 17 NO. 02 PP. 1018 ~ 1020 (2013. 10) |
한글내용
(Korean Abstract) |
PCB 제작 분야에서 TCP와 COF에서는 전기적인 특성검사만으로 자동화를 이루어지고 있으며, 실제 단락 및 돌기(근사단락) 형태의 데이터 불량 등에 대해서는 노동력을 동원해 불량을 검출하고 있는 실정이다. 본 논문에서는 영상처리에 의해 국부지역패턴 분석법에 기초한 검출기법을 제안한다. 제안한 방법은 히스토그램보정, 공간위치보정 및 최대왜곡좌표를 구하는 전처리 과정을 포함하여, 지역기반의 패턴분석법이 적용된다. 모의실험을 통하여 제안한 방식은 기존의 영역기반의 검출기법에 비해 성능이 개방 및 근사개방 결함 검출에서 크게 성능을 개선할 수 있음을 보인다.
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영문내용
(English Abstract) |
Conventionally, PCB fabrication processes detects simply electrical characteristics of TCP and COF by automatic manufacturing system and additionally, by introducing human visual detection, those are very ineffective in view of low cost implementation. So, this paper presents an efficient detection algorithm for short and protrusion-type defects based on reference images by using local binary pattern analysis. The proposed methods include several preprocessing techniques such as histogram equalizing, the compensation of spatial position and maximum distortion coordination Through several experiments, it is shown that the proposed method can improve the defect detection performance compared to the conventional schemes.
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| 키워드(Keyword) |
FAB
Defect
Short
Protrusion
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| 파일첨부 |
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