• Àüü
  • ÀüÀÚ/Àü±â
  • Åë½Å
  • ÄÄÇ»ÅÍ
´Ý±â

»çÀÌÆ®¸Ê

Loading..

Please wait....

Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù

Ȩ Ȩ > ¿¬±¸¹®Çå > Çмú´ëȸ ÇÁ·Î½Ãµù > Çѱ¹ÀÎÅͳÝÁ¤º¸ÇÐȸ Çмú¹ßÇ¥´ëȸ > 2005³âµµ ÀÎÅͳÝÁ¤º¸ÇÐȸ Ãá°èÇмú¹ßÇ¥´ëȸ

2005³âµµ ÀÎÅͳÝÁ¤º¸ÇÐȸ Ãá°èÇмú¹ßÇ¥´ëȸ

Current Result Document : 5 / 5

ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) È¿À²ÀûÀÎ S/W °³¹ßÀ» À§ÇÑ ¿ä±¸ºÐ¼® ¹× ¿ä±¸¸í¼¼ÀÇ Å×½ºÆ®°¡´É¼º ÃøÁ¤¹æ¾È
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) Requirements Analysis & Measurement of Testability of Requirements Specification for Efficient S/W Development
ÀúÀÚ(Author) Á¶ÀåÈñ   ±èº´±â   Jang Hee Cho   Byung Ki Kim  
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) VOL 06 NO. 01 PP. 0409 ~ 0414 (2005. 06)
Çѱ۳»¿ë
(Korean Abstract)
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °³¹ß¿¡¼­ ¿ä±¸»çÇ× ºÐ¼®¿¡ ´ëÇÑ °ü¸®¸¦ Ç°Áú°ú »ý»ê¼º¿¡ Áß¿äÇÑ ¿ªÇÒÀ» ÇÑ´Ù. ±âÁ¸ ¿¬±¸´Â ¿ä±¸»çÇ× ºÐ¼®´Ü°è¿¡¼­ ±â´É Áß½ÉÀ¸·Î ¹®Á¦ºÐ¼®À» ½ÃµµÇÏ°í, ½ÃÇè ¹× ±¸Çö´Ü°è¿¡¼­ Ç°Áú¹®Á¦¸¦ °í·ÁÇÏ°í ÀÖ´Ù. ¶ÇÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆ® ÀÛ¾÷Àº ºñ¿ëÀÌ ¸¹ÀÌ µå´Â ÀÛ¾÷À¸·Î ¾Ë·ÁÁ® ÀÖ´Ù. Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽º¸¦ ¼³°èÇÏ°í Å×½ºÆ® È¯°æÀ» ±¸ÃàÇϸç Å×½ºÆ®¸¦ ¼öÇàÇÏ°í °áÇÔÀÇ À§Ä¡¸¦ ÆľÇÇÏ¿© ¼öÁ¤Çϱ⠱îÁö´Â ¸¹Àº Àη°ú Àåºñ ±×¸®°í ½Ã°£ÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù.
º» ³í¹®¿¡¼­´Â ¿ä±¸»çÇ×À» ÃßÃâÇÏ°í ºÐ¼®Çϴ ´Ü°è¿¡¼­ Ç°Áú¼Ó¼ºÀ» °í·ÁÇϴ ¿ä±¸ºÐ¼® ¸ðµ¨À» Á¦¾ÈÇÑ´Ù. Ç°ÁúÆò°¡¸ðÇüÀΠISO/IEC 9126 Ç°Áú¼Ó¼ºÀ¸·Î ºÐ¼®µÈ ¿ä±¸»çÇ×À» °³¹ß½Ã½ºÅÛÀÇ ÀÌÇØ¿Í »ç¿ëÀÚÀÇ ¿ä±¸»çÇ׿¡ ´ëÇÑ ¸¸Á·µµ¸¦ ³ôÀÏ ¼ö ÀÖµµ·Ï Ä«³ë(Kano)ÀÇ ÀÌ¿øÀû Ç°ÁúÀÌ·ÐÀ» ÅëÇؼ­ ÀçºÐ·ùÇÔÀ¸·Î½á »õ·Î¿î ¿ä±¸ºÐ¼® ¹æ¹ýÀ» Á¦¾ÈÇÑ´Ù. ¶ÇÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ÇÁ·ÎÁ§Æ® ¼öÇà Áß¿¡ ºñ¿ëÀ̳ª ÀÏÁ¤ Ãø¸é¿¡¼­ ºñÁßÀÌ Å« Å×½ºÆ® ÀÛ¾÷ÀÇ À§Çèµµ¸¦ ÁÙÀ̱â À§ÇÏ¿© Å×½ºÆ® °¡´É¼º °ËÅä¹æ¹ý°ú À̸¦ °´°üÀûÀ¸·Î ÃøÁ¤Çϴ ¹æ¹ýÀ» Á¦½ÃÇÏ¿´´Ù. À̴ ºí·¢¹Ú½º Å×½ºÆ® ±âÁØÀÌ µÇ´Â »êÃâ¹°Áß¿¡ ¸ÕÀú ¿ä±¸¸í¼¼¼­ÀÇ Å×½ºÅÍ °¡´É¼º °ËÅä¹æ¹ýÀ» Á¦½ÃÇÏ¿´´Ù. ÀÌ·¸°Ô ºÐ¼®µÈ ¿ä±¸¸í¼¼¼­¸¦ ÅëÇØ °´°üÀû ÃøÁ¤ÀÌ °¡´ÉÇϵµ·Ï ¼³°èµÈ ¸ÅÆ®¸¯½º¸¦ Áß½ÉÀ¸·Î Å×½ºÆ® °¡´É¼º °ËÅä¿Í ÃøÁ¤ÇÏ¿© ¼Ò¿äµÉ ºñ¿ëÀ» ¿¹ÃøÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.

¿µ¹®³»¿ë
(English Abstract)
Å°¿öµå(Keyword)
ÆÄÀÏ÷ºÎ PDF ´Ù¿î·Îµå