정보과학회 논문지 A : 시스템 및 이론
Current Result Document :
| 한글제목(Korean Title) |
정적 전류측정에 기반을 둔 고신뢰도 VLSI 시스템의 구현 |
| 영문제목(English Title) |
Implementation of Highly Reliable VLSI Systems based on Current Monitoring |
| 저자(Author) |
장훈
Hoon Chang
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| 원문수록처(Citation) |
VOL 23 NO. 03 PP. 0234 ~ 0243 (1996. 03) |
한글내용
(Korean Abstract) |
VLSI 시스템의 복잡도와 밀도가 증가함에 따라 고정 결함 모델에 기반을 둔 기존의 논리검사는 시스템의 높은 신뢰도를 보장하는데 충분하지 않게 되었다. 최근에 Iddq 검사라고도 불리는 전류 측정에 기반을 둔 새로운 검사 기법이 기존의 논리검사의 단점을 극복 할 수 있게 됨에 따라 매우 중요해 지고 있다. 본 연구에서는 논리소자 내부에서 발생할 수 있는 브릿지 결함을 정의, 분석하고 이를 완벽하게 검출할 수 있는 정리를 제안하였다. 또한, 논리소자 내부에서 발생할 수 있는 브릿지 결함을 검증하기 위하여, 전류측정에 기반을 둔 알고리즘을 제안하였다. 제안된 알고리즘은 논리 소자 내부에서 발생가능한 모든 브릿지 결함을 완벽하게 검증할 수 있었으며, 벤치마크회로들에 대한 실험을 통하여 그 효율성이 입증되어졌다. |
영문내용
(English Abstract) |
As the complexity and density of VLSI systems increase, the conventional logic test of systems based on stuck-at fault model has not been sufficient to guarantee the high reliability of the system. Recently, a new test aproach based on current monitoring, called Iddq test, becomes very important since it can overcome drawbacks of the conventional logic test. In this work, intra-gate bridge fault is defined and analyzed, and theorems for full detection of the intra-gate bridge faults are presented. Also, the algorithm for testing intra-gate bridge fault based on current monitoring is proposed, the proposed algorithm detects successfully all the possible intra-gate bridge gaults, and the efficiency of the proposed algorithm has been proved through the experiments on benchmark circuits. |
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