	제목(Title)	상관관계를 통한 조직의 테스트 프로세스 개선 가이드 방안
	저자(Author)	김기두 박용범 김영철 Kidu Kim Park Young Bom R. Youngchul Kim
	수록저널(Journal)	정보처리학회논문지 소프트웨어 및 데이터 공학
	원문수록처(Citation)	VOL 02 NO. 12 PP. 0823 ~ 0828 2013. 12
	제목(Title)	국방 소프트웨어의 시험 프로세스 개선을 위한 국방 시험 성숙도 모델
	저자(Author)	박준영 류호연 최호진 백종문 김진수 Junyoung Park Hoyeon Ryu Hojin Choi Jongmoon Baik Jinsoo Kim
	수록저널(Journal)	한국정보과학회 논문지 B - 소프트웨어 및 응용
	원문수록처(Citation)	VOL 35 NO. 05 PP. 0288 ~ 0296 2008. 05

학술대회 프로시딩 (2)

	제목(Title)	RFID 태그 추적을 위한 TPIR*-Tree
	저자(Author)	이세호 안성우 홍봉희
	수록저널(Journal)	한국정보과학회 2005 추계학술대회
	원문수록처(Citation)	VOL 32 NO. 02 PP. 0022 ~ 0024 2005. 11
	제목(Title)	TMM 향상을 위한 테스트 프로세스 성숙도 체크리스트 연구
	저자(Author)	김기두 류동국 김영철
	수록저널(Journal)	한국정보과학회 2004 추계학술대회
	원문수록처(Citation)	VOL 31 NO. 02 PP. 0487 ~ 0489 2004. 10